涂層測厚儀產(chǎn)品及廠家
thick800axray膜厚測試儀主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，x射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。
更新時間:2025-10-23
thick800ax熒光鍍層檢測儀專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。
更新時間:2025-10-23
天瑞儀器thick 800ax熒光測厚光譜儀專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時間:2025-10-23
thick 800a鍍層測厚元素分析儀用于金屬、非金屬或符合材料表面鍍層的分析，是具有成本效益的質量控制工具，可提高生產(chǎn)效率、減少零件浪費，同時減少生產(chǎn)成本。
更新時間:2025-10-23
涂層測厚儀鍍層膜厚儀德國原裝進口優(yōu)惠價格德國epk公司（elektrophysik)一直致力于開發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測量的涂層測厚儀。作為無損涂層測厚儀領域的先驅，epk公司與各標準化組織和研究院一道，成功地推進了涂層測厚儀在世界范圍內(nèi)的標準化進程。大量的專利技術與成果表明epk公司是該涂層檢測的佼佼者。
更新時間:2025-10-23
涂鍍層測厚儀德國epk原裝進口涂層檢測儀三十多年來 mikrotest已成為被廣泛應用的自動測定涂鍍層厚度的專用儀器。德國的“訣竅”說明它在工藝技術及精度方面，具有磁性涂層測厚儀的最高水準。所有儀器均符合din、iso、bs及astm標準
更新時間:2025-10-23
儀器德國菲希爾fischer磁性渦流兩用型原裝正品涂層測厚儀新款dualscope mpo涂鍍層測厚儀采用廣受承認的fischer探頭技術，是最為小巧并能最大程度滿足您測量需要的儀器。它測量精度高、界面友好且結實耐用。對不復雜工件的現(xiàn)場測量尤為理想。
更新時間:2025-10-23
thick800a 膜厚儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2025-10-23
thick800a 膜厚儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2025-10-23
鍍層膜厚測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時間:2025-10-23
電鍍層x射線光譜儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2025-10-23
鍍層厚度檢測儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時間:2025-10-23
五金配件鈦合金檢測儀特點1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標定位測試點4.測試組件可升降
更新時間:2025-10-23
pcb多電鍍鍍層測厚儀 針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；配置高分辨率si-pin半導體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2025-10-23
x射線鍍層膜厚測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-10-23
鍍層膜厚分析儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-10-23
鍍層膜厚分析儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-10-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-10-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-10-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-10-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-10-23
標準配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2025-10-23
鍍層厚度測量儀鋅鎳合金專用光譜儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時間:2025-10-23
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
更新時間:2025-10-23
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
更新時間:2025-10-23
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-10-23
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-10-23
電鍍液鍍層含量測定鍍層測厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-10-23
鍍層膜厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-10-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-10-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-10-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-10-23
鍍層厚度測試分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2025-10-23
天瑞儀器thick800a 注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞
更新時間:2025-10-23
x射線鍍層測厚檢測儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時間:2025-10-23
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-10-23
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-10-23
國產(chǎn)x鍍層測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時間:2025-10-23
天瑞儀器光譜儀thick800a 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2025-10-23
x鍍層測厚儀注意事項開啟儀器電源開關時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2025-10-23
電鍍滾鍍廠測厚儀：thick800a測定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標準曲線第二步：確定測試時間：40s第三步：測試其重復性得出相對標準偏差
更新時間:2025-10-23
x射線鍍層測厚檢測儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；配置高分辨率si-pin半導體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2025-10-23
電鍍層測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2025-10-23
多元素復合鍍層測試儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2025-10-23
儀器尺寸：690（w）x 575（d）x 660（h）mm樣品室尺寸：520（w）x 395（d）x150（h）mm樣品臺尺寸：393(w)x 258 (d）mmx/y/z平臺移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/sx/y/z平臺重復定位 ：小于0.1um深圳x射線測厚儀操作環(huán)境濕度：≤90%操作環(huán)境溫度 15℃～30℃
更新時間:2025-10-23
最新產(chǎn)品
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