光學測量儀產品及廠家
yy1081-2011西安信捷clt800醫(yī)用內窺鏡冷光源檢測系統(tǒng)產品設計依據醫(yī)藥行業(yè)標準《yy 1081—2011醫(yī)用內窺鏡 內窺鏡供給裝置 冷光源》,主要用于
更新時間:2025-12-16
西安信捷ecr900醫(yī)用內窺鏡光學性能檢測裝置是我公司依據標準yy0068.1-2008和yy1298-2016研發(fā)設計的一款用于檢測醫(yī)用內窺鏡光學成像性能的高精度、高效率、多功能、全自動的檢測儀器。
更新時間:2025-12-16
西安航天基地信捷iem300紅光治療儀檢測設備光譜測試系統(tǒng)依據標準yy/t1496-2016、yy0669-2008和yy0901-2013,是一款為光譜治療設備如紅光治療設備、嬰兒光治療設備、紫外治療等設備光學性能評估而設計的一款檢測設備。
更新時間:2025-12-16
全自動激光檢測分析儀符合標準《iec60825-1:2007》《gb7247.1-2012》《gb9706.20-2000》,用于醫(yī)療器械中醫(yī)用激光得分類檢測、激光輻射檢測、伴隨輻射檢測、允許照射量檢測、輻射量檢測等。采用觸摸屏控制和計算機軟件雙操作平臺，兩者可兼容操作也可獨立操作。
更新時間:2025-12-16
1、設備的用途：設備中發(fā)光源的激光輻射類別檢測、輻射量、伴隨輻射等參數的檢測；2、依據的行業(yè)標準：《gb7247.1-2012》、《iec60825-1：2007》
更新時間:2025-12-16
1、滿足標準：《yy 1081—2011醫(yī)用內窺鏡 內窺鏡供給裝置 冷光源》；2、設備用途：內窺鏡供給裝置冷光源檢測。
更新時間:2025-12-16
滿足標準：這是一款根據標準yy0843-2011研發(fā)生產的一款用于測試氣腹機氣壓、流量、顯示耗氣量準確性等性能的標準檢測設備。
更新時間:2025-12-16
滿足標準：該設備是根據yy/t 0113《牙科學 復合樹脂耐磨耗性能測試方法》標準要求設計的。設備用途：用于檢測牙科復合樹脂材料的磨耗性能。
更新時間:2025-12-16
該設備是對醫(yī)用內窺鏡光學性能進行檢測的設備，是西安信捷依據標準《yy 0068.1—2008》研發(fā)設計生產的。
更新時間:2025-12-16
該設備是依據標準yy 0068.1—2008研發(fā)設計的。主要是用于檢測醫(yī)用內窺鏡光學性能。
更新時間:2025-12-16
yy0763標準醫(yī)用內窺鏡檢測裝置的檢測功能：1.內窺鏡光纜出光角測試2.光譜透過率測定3.光能傳遞效率測定4.扭轉試驗5.短暫壓扁試驗6.拉伸試驗
更新時間:2025-12-16
燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設備是西安信捷智能檢測科技有限公司依據行業(yè)標準《iec 62471:2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》研發(fā)設計的。
更新時間:2025-12-16
無影燈光色測試儀是依據標準yy 9706.241-2020醫(yī)用電氣設備 第2-41部分: 手術無影燈和診斷用照明燈的基本安全和基本性能用要求研發(fā)設計的。
更新時間:2025-12-16
ns500中空玻璃空氣層厚度測量儀測試原理是利用光學反射原理，可在玻璃的單側表面測量玻璃厚度，尤其適用于通用測量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測量。對于空氣夾層玻璃的測量，還可以同時獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時間:2025-12-16
數碼管顯示處理器介紹1）點、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預置和構造2）座標擺正和座標平移，方便擺正工件，減少調整時間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打?。?）多種座標顯示方式，極座標和直角座標、inc座標和abs座標公制和英制6）對光柵尺可進行線性補償或區(qū)段線性補償7）z軸可接光柵尺或旋轉編碼器
更新時間:2025-12-16
電線電纜測量投影儀，絕緣護套測量儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器，適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域,機械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護套材料通用方法》標準要求。
更新時間:2025-12-16
線纜檢測用投影儀，輪廓檢測投影儀，絕緣護套檢測投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-12-16
低倍測量投影儀，線纜光學投影儀，數字式電纜測量投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-12-16
工業(yè)測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-12-16
測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
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輪廓測量投影儀參數，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-12-16
絕緣護套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-12-16
潛鮫水下機器人是一款面向業(yè)用戶和政企市場的工業(yè)水下機器人，主要用于科考探索，水下應急救援，水產養(yǎng)殖，船舶碼頭檢查，漁業(yè)養(yǎng)殖等
更新時間:2025-12-16
aoi可以置于生產線上的多個位置，但有三個位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機之后，這是個典型的放置位置，因為很多缺陷是由于錫膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會導致元件丟失或開路的原因。2、回流焊，將檢測設備放置于貼片后
更新時間:2025-12-16
一鍵閃測儀ivs系列國產閃測儀閃測儀廣泛應用于機械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機、家電、印刷電路板、醫(yī)療器械、鐘表、刀具等。
更新時間:2025-12-16
rlk650 pro便攜式紅外發(fā)射率測量儀，是新型的光電測量儀器。其基于定向半球反射比（dhr）測量原理，完成雙波段（3-5um和8-14um）發(fā)射率/反射率的測量，測量結果保存儀器內存中，可下載至sd卡。其采用一體化便攜式手持設計，觸摸屏操作，具有檢測速度快、精度高、體積小、重量輕、操作簡便等優(yōu)點。廣泛應用于材料表面紅外發(fā)射率的測量、材料研究，是現代科研與軍事研究不可或缺的光電測量儀器。
更新時間:2025-12-16
產品具備快速加熱、高精度和移動式設計等顯著優(yōu)勢。相比國外同級別設備體積龐大、需專用空間的痛點，kf-h3000 采用立體滾輪設計，在保持同等高強性能的同時，大幅縮減空間占用，使用更靈活高效。
更新時間:2025-12-16
hy-ml系列超低溫面源黑體為真空環(huán)境適用的面源黑體產品，其溫度控制采用薄膜型加熱器件，主動降溫則通過液氮或低溫循環(huán)氦氣實現。搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)后，能夠在較寬的溫度區(qū)間內(150k~450k,低溫均可擴展至40k)實現調控。該面源黑體具有溫度均勻性好、發(fā)射率高的特點，同時集成化與標準化程度較高，可應用于實驗室及真空低溫環(huán)境下紅外成像器的輻射定標和非均勻性校正工作。
更新時間:2025-12-16
hy-mh系列中溫面源黑體采用薄膜型加熱器件驅動溫度，搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)，實現寬溫范圍的精確調控。該設備兼具高均勻性、高發(fā)射率、高集成度與標準化程度，采購成本更具優(yōu)勢，適用于實驗室與外場等多種場景下的紅外成像器輻射定標及非均勻性校正工作。
更新時間:2025-12-16
半球發(fā)射率測量儀 ae1/ rd1 是用于測量發(fā)射率的專用儀器。符合《astm c1371》、《jg_t 235-2014 建筑反射隔熱涂料》、《gbt 25261-2010 建筑用反射隔熱涂料》等國家標準，是建筑涂料行業(yè)，新能源材料研究，航空航天材料研發(fā)檢測的必需品。
更新時間:2025-12-16
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品，儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據設定的標準體發(fā)射率準參數，計算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時間:2025-12-16
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品，儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據設定的標準體發(fā)射率準參數，計算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時間:2025-12-16
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品，儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據設定的標準體發(fā)射率準參數，計算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時間:2025-12-16
qf 系列高溫黑體校準源覆蓋 100℃ 至 1500℃ 溫度范圍，采用 25.4mm 孔徑封閉管腔設計。qf-1500 黑體校準源硅鉬棒便于更換，維護便捷的特點使其適用于實驗室及工業(yè)領域的高溫校準需求。
更新時間:2025-12-16
t-r系列專為低溫至105攝氏度的市場設計，其溫度范圍甚至可低于零下70攝氏度。該系列的高精度和易用性使其成為實驗室和工業(yè)應用中理想的溫度校準工具。
更新時間:2025-12-16
sw-dt-r 系列低溫黑體校準源覆蓋-30°c至150°c寬廣溫區(qū)，為低溫至中溫校準場景提供支持。
更新時間:2025-12-16
hy-ms系列超精密面源黑體可輸出標準紅外輻射，為紅外成像器的地面輻射定標試驗與性能測試提供穩(wěn)定基準。該系列采用tec溫度驅動方式，搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)，實現寬溫范圍內的精確調控。憑借高發(fā)射率、高均勻性與高控溫精度的特性，hy-ms 系列超精密面源黑體能夠滿足實驗室、外場等多種場景下，紅外成像器輻射定標與非均勻性校正的應用需求。
更新時間:2025-12-16
hy-mq系列高溫面源黑體作為一直高輻射強度的參考源，設備支持環(huán)境溫度+5℃~550℃的絕對溫度調節(jié)，輻射面具備高均勻度與高發(fā)射率特點，溫度分辨率達0.01k，且能在20℃~70℃的環(huán)境下穩(wěn)定運行，廣泛應用于紅外傳感器如輻射溫度計、紅外熱像儀的校準以及樣品輻射率或透過率的測量。
更新時間:2025-12-16
beamwatch integrated自動激光測量儀用于自動化制造的光束表征系統(tǒng) 實時自動測量激光功率、焦散和焦點偏移支持單模激光器全自動操作帶有好/壞信號的趨勢分析帶有時間戳的詳細報告無需更改測量系統(tǒng)即可使用不同類型的焊頭堅固耐用，適用于工業(yè)生產環(huán)境輪班操作中頻繁測量的短測量時間
更新時間:2025-12-15
公司于高速智能制造，從事光學精密測量儀器及視覺檢測領域的技術研發(fā)、設備制造和工程實施。業(yè)務涵蓋新能源，電動汽車、半導體/led、智能家居、電子產品、精密五金模具等領域，提供精密制造測量儀器及視覺檢測設備、機器人等智能裝備整體解決方案提供商
更新時間:2025-12-15
nir100近紅外光譜儀nir100紅外光譜儀具有高靈敏度和緊湊型設計 ，可在780-1700 nm光譜范圍內與多種光源配合使用。其精密工程設計、無移 動部件以及非制冷線性ingaas傳感器的特點 ，使其成為各種光譜應用的理想選擇 ，且無需長期信號存儲。
更新時間:2025-12-15
fs70l-th 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 tv接口激光)應用：切割、修整、校正、 給半導體電路做標記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。? 可用于紅外光學系統(tǒng)*。
更新時間:2025-12-15
int10-m邁克爾遜 plx 單片干涉儀(中紅外 ftir 光譜儀組件)產品應用中紅外光譜分析儀
更新時間:2025-12-15
bladecam2-hr-1310 cmos基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 產品應用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄使用 m2du 平臺測量 m2
更新時間:2025-12-15
snake 是新一代的vga格式的ingaas近紅外相機，具有即插即用能力。工作在900-1700nm的swir光譜范圍，該紅外相機具有出色的性能，在靈敏度，噪聲，暗電流和操作方便性都具有非常高的優(yōu)勢。該相機提供了oem版本，集成模塊化接口設計，易于集成于用戶的系統(tǒng)中，同時可提供數據處理能力?？蓱糜诟吖庾V儀器，激光束分析，半導體檢測，生物醫(yī)學研究和國防等。
更新時間:2025-12-15
asp-75微型高精度光譜儀占地面積小，重量為300克。該設計的簡單性允許將寬光譜范圍和高分辨率與超過緊湊尺寸相結合。asp-75微型高精度光譜儀可用于各種空間要求苛刻的應用，也可用于任何設備的oem集成。該裝置具有特殊的光纖輸入和光譜狹縫，光纖狹縫的大小由探測器調節(jié)。它允許測量自由空間或光纖信號而無需任何重新對準。但是，由于光纖中信號調制和隨后的頻譜失真，不建議使用光纖測量飛秒激光的頻譜。
更新時間:2025-12-15
thz，太赫茲，近場探針，太赫探測，thz near-field optical probe，太赫茲近場探測，太赫茲近場探針，thz近場探測，thz探針，thz近場探針
更新時間:2025-12-15
從當下主流的機械硬盤，到未來的磁性存儲單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質的重要手段。 相較于電學霍爾測量和震動磁強計，光磁克爾效應具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進行加工或切
更新時間:2025-12-15
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