場發(fā)射掃描電鏡產品及廠家
jem-f200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的jem-f200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-10-21
德國zeiss場發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2025-10-21
光發(fā)射顯微鏡是器件分析過程中針對漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設計、生產制造過程中有絕緣缺陷，或者期間經過外界靜電擊穿，均會造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內部形成流動電流，漏電位置的電子會發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測器，通過紅外顯微鏡探測到這些釋放出來的紅外線，
更新時間:2025-10-21
shnti的x-射線薄膜窗能夠實現軟x-射線(如真空紫外線)的最大透射率。主要用于同步輻射x射線透射顯微成像時承載樣品。 x-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態(tài)工作（即薄膜與光束成一定角度）時，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線更好地穿透。
更新時間:2025-10-14
安捷倫8500fe-sem為研究者提供場發(fā)射掃描電鏡。這個緊湊、創(chuàng)新的系統(tǒng)優(yōu)化了低電壓成像，特別是表面高對比度，可以得到一般在更大，更昂貴的場發(fā)射顯微鏡才能得到的分辨率。8500安裝使用很方便，不需特別的場地要求，只需一個接線板。設計緊湊，為實驗室中的研究者提供了以前只有傳統(tǒng)場發(fā)射電鏡才能得到的性能。8500經過精心設計，可以提供持續(xù)，可重復的性能，成本是業(yè)界最低的
更新時間:2025-10-14
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設備的同時確保高分辨成像功能的應用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域，同時實現納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗研究的所有需求。
更新時間:2025-10-14
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-10-14
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-10-14
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-10-14
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2025-10-14
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。
更新時間:2025-10-14
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內），大大提升檢測效率。
更新時間:2025-10-14
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內含5軸多功能電動樣品臺，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時安裝了多個樣本，減少樣品來回放置時因抽真空所使用的時間，從而達到快速分析測樣的目的，有.效地提高檢測速度。
更新時間:2025-10-14
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機身，cube-ⅱ smart占地面積小機身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務指南來任意移動自己的臺式sem設備。
更新時間:2025-10-14
em科特（emcrafts）cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務指南任意移動sem設備，節(jié)約空間成本。
更新時間:2025-10-14
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據不同的檢測需求，靈活定制自動分析流程，保證高通量快速運行。同時可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時顯示在界面。即使是初學者也可以方便快速地獲得整個樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時間:2025-10-14
cube臺式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對各種材料和器件表面微結構或組織形態(tài)進行精細觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區(qū)化學成分。電子光學系統(tǒng)：業(yè)配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺：大行程馬達驅動樣品臺，大
更新時間:2025-10-14
cube臺式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對各種材料和器件表面微結構或組織形態(tài)進行精細觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區(qū)化學成分。電子光學系統(tǒng)：業(yè)配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺：大行程馬達驅動樣品臺，大
更新時間:2025-10-14
cube臺式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對各種材料和器件表面微結構或組織形態(tài)進行精細觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區(qū)化學成分。電子光學系統(tǒng)：專業(yè)級配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三級電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺：大行程馬達驅動樣品臺，最大
更新時間:2025-10-14
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-10-09
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-10-09
秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時間:2025-10-09
超大樣品臺（標配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個 1/2 英寸樣品臺樣品最大尺寸：長 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個樣品臺可以對各種各樣的樣品成像
更新時間:2025-10-09
設計用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時間:2025-10-09
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經驗已超過60年，其技術先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應用。zeiss不斷追求、推出新的技術和新的產品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現zeiss電子顯微鏡高價值 和高利用性。
更新時間:2025-10-03
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場發(fā)射電鏡。該場發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點：
更新時間:2025-10-03
tescan 高分辨率場發(fā)射掃描電鏡使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應用于各個科學和工業(yè)領域。
更新時間:2025-09-29
tescan mira 場發(fā)射掃描電鏡是新推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍，在tescan 的 essence 操作軟件的同一個窗口中實現了 sem 成像和實時元素分析。
更新時間:2025-09-29
tescan clara 超高分辨率場發(fā)射掃描電鏡是一款應用廣泛的多功能掃描電子顯微鏡，是基于成功的s8000 基礎上進一步研發(fā)的，其設計更能滿足材料科學的需求，適用于對各種不同類型材料的分析和表征。
更新時間:2025-09-29
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-09-28
【hitachi】日立新型臺式掃描電鏡tm4000plus可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-09-28
【hitachi】日立120kv透射電鏡ht7800 很好地繼承了日立120kv-tem的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體，可同時滿足軟材料/納米材料類和生命科學類客戶對電鏡的需求。
更新時間:2025-09-28
【hitachi】su9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時間:2025-09-28
【hitachi】冷場發(fā)射掃描電鏡regulus8100易維護、易操作等優(yōu)點，進一步提高性能，1kv減速模式下最高分辨率達到了0.8nm，15kv達到0.7nm，高低電壓均可滿足高分辨的觀察。
更新時間:2025-09-28
【hitachi】日立高性能鎢燈絲掃描電鏡su3500通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。
更新時間:2025-09-28
【hitachi】日立新型熱場發(fā)射掃描電鏡su5000高穩(wěn)定性熱場發(fā)射電子槍， 全新的em wizard軟件，無需設置參數即可獲得高質量圖片，高分辨率和強大的分析能力，樣品適用性強：不導電樣品直接觀察（低真空功能，10-300pa）
更新時間:2025-09-28
日立新型鎢燈絲掃描電鏡flexsem1000 ii 體積小、操作簡單、性能強（4nm@20kv）、擴展功能豐富2. 擁有多個探測器（se、bse）3. 擁有低真空功能，不導電和含水樣品直接觀察
更新時間:2025-09-28
aerosurf1500可在大氣壓（105pa）下得到sem圖像；2、臺式掃描電鏡設計；3、低真空下成分分析；4、優(yōu)質的圖像處理控制；
更新時間:2025-09-28
日立l型fib-sem-ar三束系統(tǒng)nx9000能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現特定顯微切片的三維結構分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結構，而不是常見的對角構造。
更新時間:2025-09-28
日立高分辨型雙束系統(tǒng)nx5000可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復雜的制備提供了新的解決方案，可以滿足納米材料、半導體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細加工。
更新時間:2025-09-28
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