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原子力顯微鏡(AFM)產(chǎn)品及廠家

百及納米ParcanNano原子力顯微鏡(快捷型)
百及納米parcannano 高速原子力顯微鏡afm(快捷型),是公司開發(fā)的一款顛覆性的新型afm系統(tǒng)。它使用主動(dòng)式智能針尖,集傳感器、驅(qū)動(dòng)器和可功能化的針尖于一身,實(shí)現(xiàn)自激發(fā)和自傳感,無需復(fù)雜的激光校準(zhǔn),是取代現(xiàn)有afm激光傳感的巨大改進(jìn)。該系統(tǒng)可在大氣、液態(tài)及真空環(huán)境下實(shí)現(xiàn)對(duì)微納米結(jié)構(gòu)的高速、高效表征,成像精度達(dá)到0.2納米的限精度。
更新時(shí)間:2025-10-21
日本RIBM 超高速視頻級(jí)原子力顯微鏡
日本ribm hs-afm超高速視頻級(jí)原子力顯微鏡,突破了 “掃描成像速慢”的限制,掃描速度最高可達(dá) 20 frame/s,并且有 4 種掃描臺(tái)可供選擇。樣品無需特殊固定染色,不影響生物分子的活性,尤其適用于生物大分子互作動(dòng)態(tài)觀測(cè)。液體環(huán)境下直接檢測(cè),超快速動(dòng)態(tài)成像,分辨率為納米水平。
更新時(shí)間:2025-10-21
梅特勒-托利多 DSC1+顯微鏡 HP DSC1+顯微鏡 顯微鏡系統(tǒng),熱分析儀
梅特勒-托利多 dsc1+顯微鏡, hp dsc1+顯微鏡 顯微鏡系統(tǒng),熱分析儀圖像信息與dsc曲線互為補(bǔ)充,可更全面準(zhǔn)確地解析樣品在升降溫過程中的轉(zhuǎn)變。
更新時(shí)間:2025-10-21
掃描探針顯微鏡SPM 原子力顯微鏡AFM 納米表面形貌粗糙觀測(cè)
原子力顯微鏡,納米表面形貌觀測(cè),非固定配置,任選組合,滿足任意需求。
更新時(shí)間:2025-10-21
原裝進(jìn)口UNIVERSAL FLOW MONITORS備件
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年,經(jīng)過多年的努力與良好的信譽(yù)度,公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作,形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系,竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-10-20
高性價(jià)比-多功能掃描探針顯微鏡(SPM)-原子力顯微鏡(AFM)
掃描探針顯微鏡(spm)平臺(tái)是為了在納米尺度研究樣品的表面性質(zhì)而設(shè)計(jì)的。它能夠讓我們?cè)趲孜⒚椎綆讉(gè)埃的尺寸下肉眼觀察并定量測(cè)量樣品的力學(xué)性質(zhì)(硬度,彈性,粘度),電學(xué)性質(zhì)(導(dǎo)電性,電容性,表面電荷分布)以及磁的性質(zhì)。solver 平臺(tái)擁有超過40 種測(cè)量方法,并且實(shí)現(xiàn)在大氣,氣氛控制以及液體環(huán)境下進(jìn)行工作。
更新時(shí)間:2025-10-14
多功能掃描探針顯微鏡(SPM)-原子力顯微鏡(AFM)平臺(tái)
ntegra平臺(tái)是一個(gè)革命性的技術(shù)概念,在擁有所有spm技術(shù):原子力/磁力/靜電力/表面電勢(shì)/導(dǎo)電原子/掃描電容/壓電力/納米刻蝕等功能的同時(shí),還能配備近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡/共聚焦拉曼/外加磁場(chǎng)/超聲原子力/納米壓痕等功能!。prima則是這個(gè)平臺(tái)中的基礎(chǔ)spm,可以在此基礎(chǔ)上根據(jù)科 研需求提供多達(dá)40 中spm 功能,其中的每種功能都有一套在其專業(yè)領(lǐng)域有著杰出表現(xiàn)的獨(dú)特配置。可選擇配備獨(dú)一無二的雙掃描結(jié)構(gòu)可以將掃描范圍擴(kuò)展最大到200x200um。
更新時(shí)間:2025-10-14
掃描探針顯微鏡(SPM)-原子力顯微鏡(AFM)-近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)--共聚焦拉曼光譜(Confocal Raman)聯(lián)用系統(tǒng)
ntegra spectra - afm / confocal raman & fluorescence / snom / ters 它將原子力顯微鏡、掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡,激光共聚焦顯微鏡、熒光光譜和拉曼光譜等各種分析手段完美地結(jié)合到一起。借助于針尖增強(qiáng)拉曼散射效應(yīng)(ters),其拉曼散射光譜和圖像測(cè)量的分辨率達(dá)到了50
更新時(shí)間:2025-10-14
NT-MDT Solver Next 原子力顯微鏡
在過去,你必須花費(fèi)相當(dāng)長(zhǎng)的一段時(shí)間并且具備相當(dāng)豐富的經(jīng)驗(yàn)才能通過操作一臺(tái)掃描探針顯微鏡獲得好的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。 然而當(dāng)你選擇了solver next™之后,那些繁瑣的培訓(xùn)幾乎是不需要的。對(duì),你沒有看錯(cuò)!它是一臺(tái)任何人都能操作的spm!
更新時(shí)間:2025-10-14
nGauge 便攜式原子力顯微鏡
gauge原子力顯微鏡作為世界上第一臺(tái)單芯片(single-chip)afm,是加拿大滑鐵盧大學(xué)(darpa聯(lián)合項(xiàng)目)近十年的研發(fā)成果。single-chip技術(shù)通過cmosmems工藝將afm的所有組件(精細(xì)xyz運(yùn)動(dòng)和納米級(jí)感測(cè))集成到單個(gè)1mm x 1 mm的芯片
更新時(shí)間:2025-10-14
NX10 高精度原子力顯微鏡
park nx10 為您帶來納米分辨率的數(shù)據(jù),值得您信賴、使用和擁有。 在 smartscan auto 有的智能模式下,系統(tǒng)自動(dòng)執(zhí)行所有必要的成像操作,同時(shí)智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描速度。這是通過park的技術(shù)才得以實(shí)現(xiàn)的。它不僅可以為您節(jié)省時(shí)間和金錢,還可以給您帶來優(yōu)質(zhì)的研究結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-10-14
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1
lumina at1可以在4分鐘內(nèi)完成150毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2025-10-14
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2
lumina at2可以在3分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2025-10-14
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2-EFEM
lumina at2-efem可以在2分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2025-10-14
Film sense薄膜厚度橢偏儀
film sense 多波長(zhǎng)橢偏儀通過簡(jiǎn)單的 1 測(cè)量,可以以高的精度和精度測(cè)定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對(duì)許多樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù) n&k 等薄膜性質(zhì)的測(cè)量。多波長(zhǎng)橢偏儀提供了強(qiáng)大的薄膜測(cè)量功能售價(jià)只是單一波長(zhǎng)橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實(shí)驗(yàn)室教室,現(xiàn)場(chǎng)處理室,工業(yè)質(zhì)量控制等等。
更新時(shí)間:2025-10-14
KLA探針式表面輪廓儀
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)大的供應(yīng)商,在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、 太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描,以及翹曲度和應(yīng)力的2d測(cè)量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。
更新時(shí)間:2025-10-14
KLA探針式表面輪廓儀P-7
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)的供應(yīng)商,在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。p-7是kla公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng),歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新,集合眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)。p-7建立在市場(chǎng)先的p-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了p-17技術(shù)的卓越測(cè)量性能,并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了高的性價(jià)比。p-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)
更新時(shí)間:2025-10-14
F50薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x
依靠f50先進(jìn)的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡(jiǎn)單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以非?焖俚亩ㄎ凰铚y(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非?焖伲蠹s每能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。f50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái),確保能夠做成千上萬次測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-10-14
Filmetrics F20 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,f20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過usb連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于某模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),f20適用于各種應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-10-14
Zygo ZeGage ProHR桌面式光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x
zygo zegage pro光學(xué)輪廓儀是用于3d形貌定量測(cè)試,和精密機(jī)械表面粗糙度檢測(cè)的理想非接觸式檢測(cè)工具。它工業(yè)化的設(shè)計(jì)提供快速,精確的測(cè)量方案,并且外形緊湊、性價(jià)比高,能夠放在生產(chǎn)車間工作,而不需要振動(dòng)隔離和特殊的隔離裝置。同時(shí)交互式的控制軟件mx 提供了簡(jiǎn)單而精細(xì)的圖形圖像來幫助你的加工處理。
更新時(shí)間:2025-10-14
Zygo NewView  9000 3D 光學(xué)輪廓儀
zygo newview 9000 3d 光學(xué)輪廓儀提供了強(qiáng)大的非接觸式光學(xué)表面分析的多功能性。它可以容易和快速地測(cè)量各種表面類型,包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測(cè)量都是無損、快速、無需樣品制備的。系統(tǒng)的核心是 zygo 相干掃描干涉技術(shù)(csi),提供了所有放大倍數(shù)下亞納米的精度,并且能夠快速測(cè)試各種樣品表面。
更新時(shí)間:2025-10-14
Dimension系列大樣品臺(tái)原子力顯微鏡
bruker dimension® icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米域的研究者帶來了全新的afm應(yīng)用體驗(yàn),其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行。仍然以上應(yīng)用廣泛的af
更新時(shí)間:2025-10-14
verifire激光干涉儀
zygo致力于保護(hù)您在verifire干涉儀的長(zhǎng)壽命期間的投資。 在全球安裝了數(shù)千套系統(tǒng),沒有其他計(jì)量公司接近zygo的產(chǎn)品質(zhì)量和客戶滿意度記錄。質(zhì)量多功能性和生產(chǎn)力大化您的投資zygo公司:光學(xué)計(jì)量的導(dǎo)者•我們保證verifire系統(tǒng)和組件作為完整解決方案的一部分,符合我們的iso 9001注冊(cè)設(shè)施
更新時(shí)間:2025-10-14
布魯克Bruker(原veeco)生物AFm—Resolve
布魯克公司的bioscope resolve™生物原子力顯微鏡與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)了高分辨的原子力顯微鏡成像和完整的細(xì)胞力學(xué)性質(zhì)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-10-14
布魯克Bruker(原veeco)大樣品臺(tái)高性價(jià)比AFM—-Edge
dimension® edge™ 原子力顯微鏡采用新技術(shù), 其儀器性能、測(cè)試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于高水平。基于頂?shù)膁imension icon®平臺(tái), dimension edge系統(tǒng)的整體設(shè)計(jì)使其 具有低漂移、低噪音的特點(diǎn).
更新時(shí)間:2025-10-14
布魯克Bruker(原veeco)最高端AFm—Fastscan
dimension fastscantm原子力顯微鏡(atomic force microscope,afm),在不損失dimension  icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了afm成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-10-14
布魯克Bruker(原veeco)性能AFm—Icon
dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備,它基于上應(yīng)用廣泛的afm平臺(tái),集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)先的應(yīng)用定制及客戶反饋等于一身。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計(jì),在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
更新時(shí)間:2025-10-14
布魯克Bruker(原veeco)高分辨率SPM-MultiMode8
multimode8-高分辨率spm,納米材料、高分子材料得力的科研助手1. 上高的分辨率2. 出眾的掃描能力3. 優(yōu)異的可操作性4. 非凡的靈活性與功能性5. 無限的應(yīng)用擴(kuò)展性
更新時(shí)間:2025-10-14
輕敲模式常用探針TESPA-V2
一包10根高質(zhì)量硅蝕刻探針,用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進(jìn)版本。 布魯克的新系列tesp高品質(zhì)優(yōu)質(zhì)蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設(shè)定了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-10-14
布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針輕敲模式OLTESPA-R3
更易定位,更適合如按樣品。此型號(hào)為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品,同型號(hào)奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率:70(50~90) khz(空氣中),彈性系數(shù):2 n/m。針尖曲率半徑:7nm(典型值)al涂層。
更新時(shí)間:2025-10-14
上海彥祥電子6800原子力顯微鏡
原子力顯微鏡應(yīng)用:其應(yīng)用范圍十分廣泛,利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等?蓽y(cè)樣品有:薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè):高校(理工類)實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、工業(yè)檢測(cè)部門。
更新時(shí)間:2025-10-14
上海彥祥電子1000型原子力顯微鏡
1000型原子力顯微鏡應(yīng)用:其應(yīng)用范圍十分廣泛,利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。可測(cè)樣品有:薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè):高校(理工類)實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、公安刑偵和工業(yè)檢測(cè)部門。
更新時(shí)間:2025-10-14
DI Multimode V
multimode v spm 是世界銷量最好的掃描探針顯微鏡。它能夠提供全部的原子力顯微鏡 (afm) 和掃描隧道 (stm) 顯微鏡成像技術(shù),可以測(cè)量樣品的表面特性,如形貌、粘彈性、摩擦力、吸附力和磁/電場(chǎng)分布等等。樣品和探針之間的簡(jiǎn)略機(jī)械設(shè)計(jì)確保了系統(tǒng)的最高的掃描速率和最大的準(zhǔn)確性。
更新時(shí)間:2025-10-13
Dimension Edge
dimension® edge 原子力顯微鏡采用最新技術(shù), 其儀器性能、測(cè)試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于最高水平。dimension系列中性價(jià)比最高的閉環(huán)掃描原子力顯微鏡,專利的傳感器設(shè)計(jì)顯著地降低噪音和 漂移,既獲得了閉環(huán)的精度,又具有開環(huán)的噪音水平,在大樣品臺(tái)afm上實(shí)現(xiàn) 了小樣品臺(tái)afm的成像性能。
更新時(shí)間:2025-10-13
Dimension Icon
bruker dimension® icon 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的afm應(yīng)用體驗(yàn),其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行。仍然以世界上應(yīng)用最廣泛的afm大樣品平臺(tái)為 基礎(chǔ),齊集 dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn),廣大客戶反饋,結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求,進(jìn)行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平,
更新時(shí)間:2025-10-13
Dimension FastScan
dimension fastscan 原子力顯微鏡 (afm)在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了afm成像速度慢的難題,大大縮短了各 技術(shù)水平的afm用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-10-13
原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡出租
原子力顯微鏡(atomic force microscopy)是種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ),通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描,探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光,后接受信號(hào)經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
更新時(shí)間:2025-10-13
拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng)
alpha300 ra –在一個(gè)系統(tǒng)里面集成化學(xué)成分分析和納米級(jí)別的結(jié)構(gòu)成像alpha300 ra 是市場(chǎng)上首個(gè)高度集成的拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng),可以在標(biāo)準(zhǔn)的alpha 300r共聚焦拉曼系統(tǒng)上通過標(biāo)準(zhǔn)模塊升級(jí)即可完成拉曼原子力系統(tǒng)聯(lián)用,獲得原位的afm和raman圖像的疊加。alpha300 ra 獨(dú)特的設(shè)計(jì)理念使聯(lián)用系統(tǒng)既保留300r強(qiáng)大的化學(xué)組分分析能力,同時(shí)加入微納級(jí)別的表面形貌等特性的分析能力,使研究者能對(duì)樣品進(jìn)行深度完善的分析和理解。
更新時(shí)間:2025-10-10
全新發(fā)布的 afm-in-phenom xl 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (sem) 和原子力顯微鏡 (afm) 的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)(sem 及 afm 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué))關(guān)聯(lián)分析。
更新時(shí)間:2025-10-09
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)
sem 與 afm 是亞納米樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)。將 afm 集成至 sem 中可融合兩者的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)超高效工作流程,完成傳統(tǒng) afm 和 sem 難以或無法實(shí)現(xiàn)的限性能和復(fù)雜樣品分析。
更新時(shí)間:2025-10-09
日立高新全新的原子力顯微鏡
2016年,日立高新全新的原子力顯微鏡—afm5500m,此產(chǎn)品精確的測(cè)試水準(zhǔn),優(yōu)異的自動(dòng)化體驗(yàn)為人類納米尺度的探索與研究提供了完美的解決方案。
更新時(shí)間:2025-09-28
日立環(huán)境可控型原子力顯微鏡
afm 5300e是一款真正的環(huán)境可控型原子力顯微鏡,可通過簡(jiǎn)單的操作來選擇高真空環(huán)境、空氣環(huán)境、液體環(huán)境、濕度環(huán)境、特種氣體環(huán)境以及變溫環(huán)境等不同環(huán)境。在高真空環(huán)境下,不僅可以防止樣品表面水膜的形成,提高樣品掃描分辨率和表面物理性能測(cè)試測(cè)量的準(zhǔn)確性;也可以通過q值控制來提高afm的掃描靈敏度,進(jìn)而提升圖像的分辨率。真空環(huán)境還可以避免某些樣品的氧化,也為
更新時(shí)間:2025-09-28
日立多功能智能型原子力顯微鏡
afm 5100n 是配備有懸臂梁自感功能的智能型便攜式原子力顯微鏡,它打破了以往只依賴于光杠桿進(jìn)行懸臂梁位移反饋的傳統(tǒng)檢測(cè)方法,其操作簡(jiǎn)便,只需將探針安裝好即可進(jìn)行掃描成像,無需再對(duì)光杠桿進(jìn)行任何調(diào)節(jié)。同時(shí)5100n還配有智能掃描模式,根據(jù)樣品起伏狀況自動(dòng)對(duì)掃描參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),測(cè)量時(shí)只需點(diǎn)擊開始按鈕即可自動(dòng)完成所有測(cè)量工作。
更新時(shí)間:2025-09-28
日立多功能智能型 5100N 原子力顯微鏡
日立多功能智能型 5100n 原子力顯微鏡
更新時(shí)間:2025-09-28
日立高新全新的原子力顯微鏡—AFM5500M
日立高新全新的原子力顯微鏡—afm5500m1.配備有4英寸電動(dòng)樣品臺(tái),樣品臺(tái)移動(dòng)范圍xy±50 mm ,最大樣品尺寸φ100×20mm,最大承重2kg 2.可自動(dòng)更換探針,并自動(dòng)調(diào)節(jié)激光光路3.通過realtuneⅱ可自動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試參數(shù)4.最新平面掃描器( xy閉環(huán)+z位移傳感器),最大掃描范圍200μm× 200μm×15μm
更新時(shí)間:2025-09-28
安東帕 Tosca 200原子力顯微鏡
更新時(shí)間:2025-09-27
NT-MDT 原子力顯微鏡Prima
更新時(shí)間:2025-09-27
SPM-9700HT型原子力顯微鏡
spm-9700ht作為一種全新的換代產(chǎn)品,通過新開發(fā)的可快速響應(yīng)的ht掃描器以及軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的優(yōu)化,成功實(shí)現(xiàn)以傳統(tǒng)設(shè)備5倍以上的速度獲取圖像數(shù)據(jù)。spm-9700ht在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能,具備了卓越的信號(hào)處理能力,加上先進(jìn)的vbdf功能,數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%,可得到更高分辨率、更高質(zhì)量的觀察圖像。
更新時(shí)間:2025-09-27

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