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分析天平產(chǎn)品及廠家

MS-TS系列  梅特勒托利多-分析天平
分析天平
更新時間:2025-10-21
XS系列  梅特勒托利多-分析天平
分析天平
更新時間:2025-10-21
XSE系列  梅特勒托利多-分析天平
分析天平
更新時間:2025-10-21
分析天平
更新時間:2025-10-21
梅特勒-托利多ME分析天平、精密天平
堅固的金屬機架結構和加固的機身實現(xiàn)過載保護,高品質(zhì)材質(zhì)確保您始終如一地獲取準確的結果完美的稱量技術確?焖倥c準確的稱量結果,內(nèi)置的時間與日期標識,確保稱量、校準和校正的數(shù)據(jù)符合iso/glp文檔的記錄要求。采用自動內(nèi)部校準技術界面直觀,簡單易用。可直接進入多種內(nèi)置應用程序和日常校準。圓弧邊緣和光滑表面確保清潔輕松醒目的背光顯示屏能夠顯示超大數(shù)字,讓您在所有工作環(huán)境中都能輕松讀取堅固耐用在日常操作中防塵防水,從而延長了電子天平的使用壽命,是在惡劣環(huán)境中進行稱量的理想之選
更新時間:2025-10-21
梅特勒XP分析天平
梅特勒 xp系列分析天平主要特點:采用分離的稱量單元和顯示控制單元,避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
更新時間:2025-10-21
梅特勒XS分析天平
采用分離的稱量單元和顯示控制單元,避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響●優(yōu)化天平適應性的稱量參數(shù)設置,滿足不同稱量環(huán)境要求●完全可拆卸、清洗的內(nèi)部和外部玻璃防風罩設計,實現(xiàn)天平的快速清潔●豐富的內(nèi)置稱量應用程序:基礎稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態(tài)稱量●gwpexcellencetm一體化安全功能,確保天平始終正確工作
更新時間:2025-10-21
梅特勒MS分析天平
采用單模塊傳感器(monobloc),具有顯著的抗沖擊、抗過載性能,同時確保稱量結果的準確性!袂逦母邔Ρ蕊@示屏(hcd),輕松讀取稱量結果●防風罩鎖定裝置(quicklock),無需使用工具和移動天平,即可方便地拆卸所有防風罩玻璃,甚至使用洗碗機進行清洗●前置水平調(diào)節(jié)腳和水平指示器,方便觀察和調(diào)節(jié)水平●內(nèi)置多種稱量應用程序:基礎稱量、統(tǒng)計功能、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態(tài)稱量、檢重稱量、稱量值檢索●內(nèi)置rs232和usb通訊接口,可將稱量結果直接傳輸至excel等開放式應用程序
更新時間:2025-10-21
梅特勒AL分析天平
采用全新電子線路、配合高速cpu及專用asic芯片,快速獲得準確的稱量結果●清晰的液晶顯示屏和鍵盤按鍵設計,方便用戶使用●多級數(shù)字濾波和補償技術,優(yōu)化天平在不同稱量條件下的操作性能●abs工程塑料機架,具有良好耐腐蝕性、抗沖擊性能,確保天平結構輕便、堅固●內(nèi)置多種稱量應用程序:基礎稱量、計件稱量、百分比稱量、動態(tài)稱量、檢重稱量、稱量值檢索
更新時間:2025-10-21
梅特勒ML分析天平
采用單模塊傳感器(monobloc),具有顯著的抗沖擊、抗過載性能,同時確保稱量結果的準確性。●清晰的背亮液晶顯示屏,輕松讀取稱量結果●內(nèi)置多種稱量應用程序:基礎稱量、統(tǒng)計功能、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態(tài)稱量、檢重稱量、稱量值檢索●內(nèi)置rs232和usb通訊接口,可將稱量結果直接傳輸至excel等開放式應用程序●支持ac交流電源和電池操作,滿足客戶在多種環(huán)境下的稱量要求
更新時間:2025-10-21
RADWAG電子分析天平AS60/220.R2十萬分之一天平0.01mg
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
RADWAG電子分析天平AS82/220.R2十萬分之一天平0.01mg
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
瑞德威RADWAG電子分析天平0.01mg十萬分之一天平
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
歐洲瑞德威RADWAG電子分析天平0.1mg萬分之一天平
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
波蘭瑞戈威RADWAG電子分析天平0.1mg萬分之一天平
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
歐洲瑞戈威RADWAG電子分析天平0.1mg萬分之一天平
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
瑞德威RADWAG電子分析天平0.1mg萬分之一天平
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
瑞德威RADWAG電子分析天平0.1mg萬分之一天平
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
瑞德威RADWAG電子分析天平0.1mg萬分之一天平
as.r系列是標準的半微量精度(0.1mg/0.01mg)電子分析天平,普遍的萬分之一和十萬分之一電子天平。
更新時間:2025-10-21
歐洲瑞德威RADWAG水分測定儀快速水分儀
ma r系列水分儀配備lcd液晶屏,操作更為簡便,測量結果更為直觀,樣品數(shù)據(jù)庫中包含可編輯的干燥模式。水分測定儀作為實驗室常用的分析測量儀器,可測量不同物質(zhì)中的相關水份含量。
更新時間:2025-10-21
歐洲瑞戈威RADWAG水分測定儀快速水分儀
ma r系列水分儀配備lcd液晶屏,操作更為簡便,測量結果更為直觀,樣品數(shù)據(jù)庫中包含可編輯的干燥模式。水分測定儀作為實驗室常用的分析測量儀器,可測量不同物質(zhì)中的相關水份含量。
更新時間:2025-10-21
波蘭瑞戈威RADWAG水分測定儀鹵素快速水分儀
ma r系列水分儀配備lcd液晶屏,操作更為簡便,測量結果更為直觀,樣品數(shù)據(jù)庫中包含可編輯的干燥模式。水分測定儀作為實驗室常用的分析測量儀器,可測量不同物質(zhì)中的相關水份含量。
更新時間:2025-10-21
波蘭瑞德威RADWAG水分測定儀鹵素快速水分儀
ma r系列水分儀配備lcd液晶屏,操作更為簡便,測量結果更為直觀,樣品數(shù)據(jù)庫中包含可編輯的干燥模式。水分測定儀作為實驗室常用的分析測量儀器,可測量不同物質(zhì)中的相關水份含量。
更新時間:2025-10-21

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