鍍層測(cè)厚儀xrf檢測(cè)儀自帶數(shù)據(jù)校對(duì)系統(tǒng),讓您永遠(yuǎn)不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔(dān)心。 金屬表面處理電鍍測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加顯現(xiàn),更能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。金屬表面處理電鍍測(cè)厚儀外觀簡潔大方,通過自動(dòng)化的x軸丫軸z軸的三維移動(dòng),雙激光定位和保護(hù)系
更新時(shí)間:2025-12-16